幕張メッセにて開催されたPVJAPAN 2011へ出展致しました。会期中、多数のご来場をいただきありがとうございました。

＜出展製品概要＞

◆量子効率測定装置　Flash QE System (Tau Science Corp.)

　革新的な技術により、従来型に比べ約100倍の高速化を実現。太陽電池セルの評価効率を格段に改善させます。

◆ホットスポット評価装置　IRIS System(Tau Science Corp.)

　太陽電池の性能不良や劣化の主な原因となる逆バイアス化でのホットスポットに繋がるシャントの欠陥を検出します。

◆薄膜型太陽電池用多層膜厚み測定装置　SMX Series(Solar Metrology Inc.)

　各層の膜厚の比率及び元素含有量などが測定でき変換効率の向上やプロセスの改善にご活用いただけます。CISやCIGSなどの薄膜化合物半導体太陽電池の多層金属膜の厚みをインラインで測定することもできます。

◆太陽電池ウェーハ用厚み、抵抗率測定モジュール　PV-6060(MicroSense, LLC.)

非接触で太陽電池ウェーハの厚み、抵抗率、P/N判定が行える測定モジュールです。優れたスループットと安定性を実現しており、ウェーハの検査プロセスにおけるインラインで使用することができます。

展示会概要

開催日程：2011年12月5日～7日

場所：幕張メッセ

ブース位置：ホール10　P10-105