概要

IRISシステムは太陽電池の性能不良や劣化の主な原因となる逆バイアス化でのホットスポットに繋がるシャントの欠陥を検出します。

IRISシステムは、独自の時間分解サーモグラフィを使用して500msec以下で、セルのホットスポットを検出します。データは、シャントの不具合を引き起こす可能性のある部分のマップを生成するために合成されます。インラインの速度で生成されたこれらのマップは、15秒後の逆バイアス条件下で同じセルの結果をサーモグラフ上に相関を示します。逆バイアス条件下で80度に到達するセルは、信頼性の問題となる可能性があり、本システムではこれらを簡単に検出することができます。