AFMアップグレードユニット

ロングレンジでサブナノメートルの分解能を実現
既存AFM装置の測定精度を改善

InvenioFlex

InvenioFlex

概要

InveniroFlexは、最先端技術でのナノポジショニングが必要とされるアプリケーションに対応できます。ステージは有効荷重が500gまで対応しており、サブナノメートルの精度と高い安定性を実現しています。また、1mmまでの動作範囲に対応しているため、高感度、低ノイズ、サブミクロンスキャンが必要とされる原子力間顕微鏡(AFM)などのアプリケーションでご活用いただけます。独自の設計により、ロングスキャンレンジでありながら、高剛性で高い応答性と精度の両立を可能としました。また、クローズドループセンサーシステムを利用したフィードバックシステムにより、スキャン時の影響を取り除き、高い精度で正確な画像の取得が可能です。

特長

・最大1mmのスキャン範囲
・大きな有効荷重
・クローズループ制御
・低ノイズ化による高解像画像処理アプリケーションへの対応
・小型で広範囲のスキャンが可能なシングルステージ
・低い面外運動


InvenInos社は、ナノメートルレベルの位置決め装置の設計、製造に関する豊富な経験を有しており、同社のロングスキャンステージは多くのアプリケーションでテストされ、原子力間顕微鏡での使用にも対応できる優れた品質を達成しています。

アプリケーション

・走査型顕微鏡
・高精度ナノスケールアライメント
・ナノファブリケーション
・ハイコンテントスクリーニング
・各種顕微鏡
・計測ツール
・バイオテクノロジー